Money.plTechnologie dla biznesuPrzemysłWynalazkiSposób wytwarzania modułowego podkładu a...
Wyszukiwarka wynalazków
  • od
  • do
Wynalazek

Sposób wytwarzania modułowego podkładu amortyzującego pod szyny jezdne oraz modułowy podkład amortyzujący pod szyny jezdne

(57) Sposób wytwarzania modułowego podkładu amortyzującego pod szyny jezdne polega na wymieszaniu kauczuku etylenowo-propylenowego w ilości 28 do 42% wagowych z kauczukiem wysokostyrenowym w ilości 2 do 8% wagowych i z napełniaczem do mieszaniny gumowej w ilości 67 do 35% wagowych oraz z 3 do 15% wagowych sieczki z włókna szklanego. Uzyskaną masę gumową łączy się z siatką, korzystnie z włókna syntetycznego, z dwóch stron przez zwulkanizowanie. Modułowy podkład amortyzujący charakteryzuje się tym, że posiada zapinki (9) samozaciskowe na końcach czołowych (8). Na jednym końcu posiada n zapinek, a na przeciwległym końcu n+1 zapinek samozaciskowych.



Kod zgłoszenia: A1
Numer zgłoszenia: 320495
Data zgłoszenia: 1997-06-11
Kod ochrony: B1
Numer prawa wyłącznego: 182608
Klasyfikacja MKP:

E01B9/68 B32B25/02

Data publikacji BUP: 1998-12-21
Osoby
Rodzaj osobyNazwaMiastoAdresKraj
(72) TwórcaKOBIERECKI BRONISŁAWPIASTÓWPL
(72) TwórcaSTANIAK STANISŁAWPRUSZKÓWPL
(72) TwórcaSZYMCZAK WOJCIECHMILANÓWEKPL
(72) TwórcaSTRZELECKA ALICJAPIASTÓWPL
(73) Zgłaszający/UprawnionyKOBIERECKI BRONISŁAWPIASTÓWPL
(73) Zgłaszający/UprawnionySTANIAK STANISŁAWPRUSZKÓWPL
(73) Zgłaszający/UprawnionySZYMCZAK WOJCIECHMILANÓWEKPL
(73) Zgłaszający/UprawnionySTRZELECKA ALICJAPIASTÓWPL
PełnomocnikChrzanowski Zygmunt

Klasyfikacje
Typ klasyfikacjiSymbolEdycja
(51) MKPE01B9/687
(51) MKPB32B25/02

Publikacje
TypData publikacjiNumer
BUP21-12-199826/1998
WUP28-02-200202/2002

Decyzje
DataTyp decyzji
11-06-1997Decyzja o wygaśnięciu prawa wyłącznego (brak opłaty za ochronę)

Sposób wytwarzania modułowego podkładu amortyzującego pod szyny jezdne oraz modułowy podkład amortyzujący pod szyny jezdne

Tytuł Producent Data modyfikacji
Angikardiaf ze stacją do pomiaru i rejestracji parametrów hemodynamicznych Siemens 26-04-2010
Aparat RTG Nucletron 26-04-2010
Mikroskop elektronowy skaningowy. LEO 14-12-2009
Mikroskop sił atomowych AFM NT-MDT (Holandia) 26-04-2010
Spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem plazmowym ICP-OES PerkinElmer Inc 13-02-2013
Grupy dyskusyjne